無需更換探測器和測針，一次掃描即可測量尺寸、形狀、波紋度和粗糙度數(shù)據(jù)。



這四個參數(shù)會影響軸承的精度和使用壽命， 
在制造過程中必須加以控制。

特點：

一次測量即可進行粗糙度、波紋度和輪廓分析。
完成全范圍的粗糙度和波紋度測量。
配備全新設(shè)計的X軸方向數(shù)字檢測器，精度更高。
Z1軸采用自主研發(fā)的多段高精度檢測器（檢測器單元）。
配備超寬量程多段高精度探測器，能夠以*高水平的性能保持探測器原有的精度。
采用高剛性、高精度、免維護直線運動導(dǎo)軌，可以高精度控制系統(tǒng)。
具有高速并行數(shù)據(jù)采集單元，硬件觸發(fā)，硬件高速采樣，無延遲。
足夠密集且穩(wěn)定的數(shù)據(jù)源為后期數(shù)據(jù)處理和計算提供了良好的保證。

粗糙度與輪廓一體測量儀較傳統(tǒng)儀器的優(yōu)勢




應(yīng)用：




技術(shù)規(guī)格：
 

[1]：（L：測量長度）
[2]：（λc為2.5mm，光學(xué)平面采樣速度≤0.3mm/s。）
[3]：（H：測量高度）
[4]：（方波測量標準量塊，Ra為0.35~0.5μm。）
[5]：（λc為0.08mm，光學(xué)平面采樣速度0.1mm/s。）
[6]：（R：標準球，2mm＜R＜10mm，采樣圓弧角度為120°。）
[7]：（60°和90°角塊規(guī)，采樣角邊長為5mm。）